荧光材料快速分析系统
我们提供多种可用于荧光测量的光谱仪,但是,建议在大多数荧光测量中,采用预先配置好的USB4000-FL光谱仪。该型光谱仪的可测波长范围是360-1000 nm,并且配有一个200-μm狭缝,和一个L4探测器聚光透镜,用来增加入射光。
半自动双道原子荧光光谱仪 型号
3 半自动双道原子荧光光谱仪 型号:JKY/640/M315856 库号:M315856
NanoLED兆赫兹闪烁光源
用于TCSPC 荧光寿命测量及其他光学测量。闪烁频率10k-1MHz。多个波长供选择。产品NanoLED系列来自久负盛名的IBH公司。
Ux220制药行业重金属铬快速分析仪
全面应对制药行业铬(Cr)含量的快速测试,由于铬(Cr)元素荧光光子能量(5.4KeV)在非金属材质中能够很好的被激发。其他元素对铬(Cr)元素影响较小。因而能够比较准确的测试出非金属中的铬(Cr)含量。
X荧光光谱仪
仪器介绍针对EDX1800在各个领域的广泛应用,根据优化产品性能和提高安全防护等级的需求,特别设计该款EDX1800B。应用新一代的高压电源和X光管,提高产品的可靠性;利用新X光管的大功率提高仪器的测试效率。性能特点下照式:可满足各种形状样品的测试需求准直器和滤光片
日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪
日本日立SFT-110型X射线荧光镀层厚度测量仪日立(SEA1000AⅡ、EA1200VX、EA1300VX、EA6000VX,膜厚仪SFT-110、FT-110、SFT9300、SFT9355、SFT9455、SFT9500X、SFT9550X)SFT-110系列产品,搭载了高性能X射线管,实